Αρχειοθήκη ιστολογίου

Πέμπτη 9 Αυγούστου 2018

Silicon wafer defect detection using high frequency guided waves

Lauper, M; Fromme, P; Robyr, JL; Masserey, B; (2018) Silicon wafer defect detection using high frequency guided waves. In: Proceedings of SPIE - Volume 10600, Health Monitoring of Structural and Biological Systems XII; (2018). SPIE: Colorado, United States. Green open access

https://ift.tt/2OZ4VA6

Δεν υπάρχουν σχόλια:

Δημοσίευση σχολίου