Αρχειοθήκη ιστολογίου

Τετάρτη 14 Νοεμβρίου 2018

Fast-convergent Fault Detection and Isolation in an Uncertain Scenario

Li, P; Boem, F; Pin, G; Parisini, T; (2019) Fast-convergent Fault Detection and Isolation in an Uncertain Scenario. In: Proceedings of the The 57th IEEE Conference on Decision and Control 2018. IEEE: Miami Beach, FL, USA. (In press).

https://ift.tt/2DDQD5y

Δεν υπάρχουν σχόλια:

Δημοσίευση σχολίου