Αρχειοθήκη ιστολογίου

Τετάρτη 18 Ιουλίου 2018

Micro-imaging of buried layers and interfaces in ultrathin films by X-ray reflectivity

Jiang, J; Hirano, K; Sakurai, K; (2016) Micro-imaging of buried layers and interfaces in ultrathin films by X-ray reflectivity. Journal of Applied Physics , 120 (11) , Article 115301. 10.1063/1.4962311 . Green open access

https://ift.tt/2utFcHq

Δεν υπάρχουν σχόλια:

Δημοσίευση σχολίου